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The structure of two-layered objects reconstructed using EDXRF-analysis and internal X-ray ratios
2015-01-01 Cesareo, R; Buccolieri, G; Castellano, A; Lopes, R. T.; De Assis, J. T.; Ridolfi, S; Brunetti, Antonio; Bustamante, A.
Thin thickness gilding determined by x-rays ratios from EDXRF-spectra
2022-01-01 Cesareo, R.; Lins, S. A. B.; Ridolfi, S.; Brunetti, A.
X – Ray Fluorescence - Analysis Of XIX Century Stamps
2008-01-01 R., Cesareo; Brunetti, Antonio
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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The structure of two-layered objects reconstructed using EDXRF-analysis and internal X-ray ratios | 1-gen-2015 | Cesareo, R; Buccolieri, G; Castellano, A; Lopes, R. T.; De Assis, J. T.; Ridolfi, S; Brunetti, Antonio; Bustamante, A. | |
Thin thickness gilding determined by x-rays ratios from EDXRF-spectra | 1-gen-2022 | Cesareo, R.; Lins, S. A. B.; Ridolfi, S.; Brunetti, A. | |
X – Ray Fluorescence - Analysis Of XIX Century Stamps | 1-gen-2008 | R., Cesareo; Brunetti, Antonio |
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